Q.835�:�Gesti�n de pruebas de l�neas y de circuitos de l�nea de los accesos de red digital de servicios integrados y de los accesos de cliente anal�gicos

�

English� Fran�ais

�

P�gina principal : UIT-T : Publicaciones : Recomendaciones : Serie�Q : Q.835 : Q.835 (03/99)

Qu� es nuevo�-� Busque las Recomendaciones

�

Q.835�:�Gesti�n de pruebas de l�neas y de circuitos de l�nea de los accesos de red digital de servicios integrados y de los accesos de cliente anal�gicos �

Recomendaci�n Q.835 (03/99)

Aprobada en 1999-03-01

Estado : En vigor

�	�ndice
�	Resumen

Disponibilidad : Documentos disponibles gratuitamente

Idiomas y formatos disponibles :

�

Para obtener el documento,
seleccione el formato y el idioma

�

Formato

Tama�o

Puesta a disposici�n

No del art�culo

English

PDF (acrobat)

418495 octetos

1999-09-15

E�16164�

Espa�ol

PDF (acrobat)

468875 octetos

1999-09-15

S�16167�

Fran�ais

PDF (acrobat)

517700 octetos

1999-09-15

F�16166�

Disponibilidad :

Utilisadores TIES

Idiomas y formatos disponibles :

�

Para obtener el documento,
seleccione el formato y el idioma

�

Formato

Tama�o

Puesta a disposici�n

No del art�culo

Utilisadores TIES

English

Word

511488 octetos

1999-09-15

E�16164�

Espa�ol

Word

616448 octetos

1999-09-15

S�16167�

Fran�ais

Word

438272 octetos

1999-09-15

F�16166�

�

Comienzo de la p�gina�-� Comentarios�-� Cont�ctenos�-� Copyright � UIT�2008�Reservados todos los derechos
Contacto p�blico :� Publicaciones UIT-T
Actualizado el :�2003/07/21

�