Document :

UIT-T�SG 12� (P�riode d'�tudes 2017)� Contribution� 232

Titre :

Evolution du repli du circuit LTE commut�-impact sur la qualit� d'Exp�rience (QoE) et la qualit� de service(QoS)

Re�u le :

2018-10-03

Source :

Minist�re des Postes et T�l�communications, charg� de la Promotion des Nouvelles Technologies d'Information et de Communication (Central African Rep.)

AI/Question :

Q12/12

R�union :

2018-11-27

Disponibilit� :

R�serv� aux utilisateurs TIES�[UIT-T]