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[256-GEN]� Alignment of Test generator and Test circuits

Format

Taille

Mise � disposition

English

Word �

38400 octets 2005-12-15 [256-GEN]�
�

Document :

UIT-T�SG05� (P�riode d'�tudes 2005)� Document Temporaire� 256-GEN

Titre :

Alignment of Test generator and Test circuits

Re�u le :

2005-12-15

Source :

ITU-T SG5

AI/Question :

Q13/5, Q4/5, Q5/5

Disponibilit� :

R�serv� aux utilisateurs TIES�[UIT-T]
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Mis � jour le :�2005-12-15		 �