Documento :

UIT-T�SG17� (Periodo de estudios 2022)� Contribuci�n� 521

T�tulo :

2nd Revised baseline text for X.bvm: Requirements for biometric variability management

Recibido en :

2024-02-06

Origen :

Korea (Rep. of)

AI/Cuesti�n :

Q10/17

Reuni�n :

2024-02-20

Disponibilidad :

Restringido a usuarios de TIES�[UIT-T]