Documento :

UIT-T�SG 12� (Periodo de estudios 2017)� Contribuci�n� 232

T�tulo :

Evolution of LTE circuit switched fallback: impact on quality of experience (QoE) and quality of service (QoS)

Recibido en :

2018-10-03

Origen :

Minist�re des Postes et T�l�communications, charg� de la Promotion des Nouvelles Technologies d'Information et de Communication (Central African Rep.)

AI/Cuesti�n :

Q12/12

Reuni�n :

2018-11-27

Disponibilidad :

Restringido a usuarios de TIES�[UIT-T]