Documento :

UIT-T�SG 12� (Periodo de estudios 2017)� Documento Temporale� 370-GEN

T�tulo :

Base text G.CSFB: Assessment of the LTE circuit switched fall back��- impact on QoE and QoS

Recibido en :

2017-09-27

Origen :

Editors G.CSFB

AI/Cuesti�n :

Q12/12

Disponibilidad :

Restringido a usuarios de TIES�[UIT-T]