Documento :

UIT-T�SG 5� (Periodo de estudios 2017)� Contribuci�n� 844

T�tulo :

Draft of K-Series Supplement-" EMF strength inside and outside of OLEV"

Recibido en :

2021-11-16

Origen :

Korea (Rep. of)

AI/Cuesti�n :

Q3/5

Reuni�n :

2021-11-30

Disponibilidad :

Restringido a usuarios de TIES�[UIT-T]