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[417]� Completion of the missing information on the capacitor used in tests

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English

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54849 octetos 2019-04-05 [417]�Revision 1

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54995 octetos 2019-04-05 [417]�
�

Documento :

UIT-T�SG 5� (Periodo de estudios 2017)� Contribuci�n� 417

T�tulo :

Completion of the missing information on the capacitor used in tests

Recibido en :

2019-04-05

Origen :

Bourns Limited (United Kingdom)

AI/Cuesti�n :

Q2/5

Reuni�n :

2019-05-13

Disponibilidad :

Restringido a usuarios de TIES�[UIT-T]
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