Documento :

UIT-T�SG 5� (Periodo de estudios 2017)� Contribuci�n� 127

T�tulo :

Problems on application of surge immunity test method in IEC 61000-4-5 Ed.3.to telecommunication equipment

Recibido en :

2017-10-30

Origen :

Nippon Telegraph and Telephone Corporation (NTT)

AI/Cuesti�n :

Q2/5, Q4/5

Reuni�n :

2017-11-13

Disponibilidad :

Restringido a usuarios de TIES�[UIT-T]