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[1703]� Further analysis of measurements on EVM and OSNR

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129167 octetos 2016-02-02 [1703]�Revision 1

Word

130098 octetos 2016-02-01 [1703]�

Documento :

UIT-T�SG 15� (Periodo de estudios 2013)� Contribuci�n� 1703

T�tulo :

Further analysis of measurements on EVM and OSNR

Recibido en :

2016-02-01

Origen :

China Unicom , Coriant GmbH & Co. KG , Keysight Technologies Deutschland GmbH

AI/Cuesti�n :

Q6/15

Reuni�n :

2016-02-15

Disponibilidad :

Restringido a usuarios de TIES�[UIT-T]

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Actualizado el :�2016-02-02