Documento :

UIT-T�SG 15� (Periodo de estudios 2013)� Contribuci�n� 495

T�tulo :

T-BC SyncE transient testing method [G.8273]

Recibido en :

2014-03-07

Origen :

Microsemi

AI/Cuesti�n :

Q13/15

Reuni�n :

2014-03-24

Disponibilidad :

Restringido a usuarios de TIES�[UIT-T]