Documento :

UIT-T�SG 16� (Periodo de estudios 2009)� Documento Temporale� 212-WP3

T�tulo :

G.729-VAD-Layer: Characterization phase processing test plan

Recibido en :

2011-08-04

Origen :

Rapporteur Q10/16

AI/Cuesti�n :

Q10/16

Disponibilidad :

Restringido a usuarios de TIES�[UIT-T]