Documento :

UIT-T�SG16� (Periodo de estudios 2005)� Contribuci�n� 474

T�tulo :

Test conditions for EV-VBR optimization/characterization phase II

Recibido en :

2008-04-15

Origen :

LM Ericsson, Nokia

AI/Cuesti�n :

Q9/16

Reuni�n :

2008-04-22

Disponibilidad :

Restringido a usuarios de TIES�[UIT-T]