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[22]� Addition of test patterns and modification of phase insertion method in Appendix VIII/O.172

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Puesta a disposici�n

English

Word �

123392 octetos 2007-08-17 [22]�
�

Documento :

UIT-T�SG04� (Periodo de estudios 2005)� Contribuci�n� 22

T�tulo :

Addition of test patterns and modification of phase insertion method in Appendix VIII/O.172

Recibido en :

2007-08-17

Origen :

CIAJ

AI/Cuesti�n :

Q5/4

Reuni�n :

2007-08-28

Disponibilidad :

Restringido a usuarios de TIES�[UIT-T]
Comienzo de la p�gina�-� Comentarios�-� Cont�ctenos�-� Copyright � UIT�2008�Reservados todos los derechos
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