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[5]� Addition of test patterns and modification of phase insertion method in Appendix VIII/O.172

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68608 octetos 2007-01-25 [5]�

Documento :

UIT-T�SG04� (Periodo de estudios 2005)� Contribuci�n� 5

T�tulo :

Addition of test patterns and modification of phase insertion method in Appendix VIII/O.172

Recibido en :

2007-01-25

Origen :

CIAJ

AI/Cuesti�n :

Q5/4

Reuni�n :

2007-02-05

Disponibilidad :

Restringido a usuarios de TIES�[UIT-T]

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Actualizado el :�2007-01-25