Document :

UIT-T�SG 16� (P�riode d'�tudes 2009)� Document Temporaire� 213-WP3

Titre :

G.729.1-VAD-Layer: Characterization phase processing test plan

Re�u le :

2011-08-04

Source :

Rapporteur Q10/16

AI/Question :

Q10/16

Disponibilit� :

R�serv� aux utilisateurs TIES�[UIT-T]