�1���� Alcance
�2����
Referencias
�3����
Definiciones
�4����
Abreviaturas
�5����
Modos de medici�n y eventos que se han de supervisar
������� 5.1���� Definici�n de los modos de medici�n
������� 5.2���� Eventos que han de supervisarse
������������� ����5.2.1���� Eventos de red
����������������� 5.2.2���� Eventos relativos a la estructura de la
se�al de prueba
������� 5.3���� Modos de medici�n fuera de servicio
����������������� 5.3.1���� Modo con transparencia de extremo a
extremo en contenedor de orden superior (C-4)
����������������� 5.3.2���� Modo con transparencia de extremo a
extremo en contenedor de orden superior (C-3)
����������������� 5.3.3���� Modo con transparencia de extremo a
extremo en contenedor de orden inferior (C-3)
���������������� �5.3.4����
Modo con transparencia de extremo a extremo en contenedor de orden
inferior (C‑11/C-12/C-2)
����������������� 5.3.5���� Modo con aplicaci�n de afluente
plesi�crono en un contenedor de orden superior (C‑4)
����������������� 5.3.6���� Modo con correspondencia de afluente
plesi�crono en un contenedor de orden superior (C‑3)
����������������� 5.3.7���� Modo con correspondencia de afluente
plesi�crono en un contenedor de orden inferior (C-3)
����������������� 5.3.8���� Modo con correspondencia de afluente
plesi�crono en un contenedor de orden inferior (C‑11/C‑12/C-2)
����������������� 5.3.9���� Modo con transparencia de extremo a
extremo de estructuras concatenadas contiguas (VC‑2‑Xc y VC‑4‑Xc)
������� 5.4���� Modos de medici�n en servicio
����������� ������5.4.1���� Eventos que
han de supervisarse para una secci�n de regeneraci�n STM-N
����������������� 5.4.2���� Eventos que han de supervisarse para una
secci�n m�ltiplex
����������������� 5.4.3���� Eventos que han de supervisarse para un
contenedor de orden superior (C-4)
����������������� 5.4.4���� Eventos que han de supervisarse para un
contenedor de orden superior (C-3)
����������������� 5.4.5���� Eventos que han de supervisarse para un
contenedor de orden inferior (C‑3)
����������������� 5.4.6���� Eventos que han de supervisarse para un
contenedor de orden inferior (C‑11/C‑12/C‑2)
����������������� 5.4.7���� Eventos que han de supervisarse para
estructuras concatenadas contiguas VC-2-Xc y VC-4-Xc
�6����
Generador
������� 6.1���� Sincronizaci�n del generador
������� 6.2���� Velocidades binarias
������� 6.3���� Estructuras de la se�al de prueba
������� 6.4���� Salidas de se�al digital
����������������� 6.4.1���� Interfaces digitales
����������������� 6.4.2���� Fluctuaci�n de fase de salida
�7����
Receptor
������� 7.1���� Entradas de se�al digital
����������������� 7.1.1���� Interfaces digitales
����������������� 7.1.2���� Tolerancia de fluctuaci�n de fase de
entrada
����������������� 7.1.3���� Puntos de supervisi�n protegidos
������� 7.2���� Estructuras de la se�al de prueba
������� 7.3���� Medici�n de la caracter�stica de error
����������������� 7.3.1���� Medici�n de la caracter�stica de error
utilizando solamente facilidades ISM
����������������� 7.3.2���� Medici�n de error que utiliza facilidades
ISM e informaci�n de secuencia de prueba
����������������� 7.3.3���� Utilizaci�n de los par�metros de calidad
de funcionamiento
����������������� 7.3.4���� Medici�n de error adicional
�8����
Funciones varias
������� 8.1���� Presentaci�n visual
������� 8.2���� Adici�n de anomal�as y defectos en la se�al de salida
������� 8.3���� Indicaci�n de error y alarma
������� 8.4���� Acceso a bytes de tara
������� 8.5���� Capacidad de demultiplexaci�n
������� 8.6���� Indicaci�n de fecha y hora de los eventos
������� 8.7��� �Salida hacia
dispositivos de registro externos
������� 8.8���� Puerto de control a distancia
������� 8.9���� Interfaz TMN
������ 8.10���� Acceso a canales de comunicaciones de datos
�9����
Condiciones de funcionamiento
������� 9.1���� Condiciones ambientales
������� 9.2���� Comportamiento en caso de fallo de la alimentaci�n de energ�a
Anexo A� Criterios para la detecci�n de anomal�as y defectos
������� A.1���� Anomal�as relacionadas con las mediciones de calidad de
funcionamiento
����������������� A.1.1�� ��Fuera de trama (OOF, out of frame)
����������������� A.1.2����
Errores B1
����������������� A.1.3���� Errores B2
����������������� A.1.4���� Errores B3
����������������� A.1.5���� Indicaci�n de error distante de secci�n
m�ltiplex (MS‑REI)
�������������� ���A.1.6����
Indicaci�n de error distante en trayecto de orden superior (HP-REI)
����������������� A.1.7���� Indicaci�n de error distante en trayecto
de orden inferior (LP-REI)
����������������� A.1.8���� Errores BIP-2
����������������� A.1.9���� Error de secuencia de prueba (TSE)
������� A.2���� Defectos relacionados con mediciones de calidad de
funcionamiento
����������������� A.2.1���� P�rdida de la se�al (LOS)
����������������� A.2.2���� P�rdida de alineaci�nde trama (LOF, less
of frame)
�������������� ���A.2.3����
Desadaptaci�n del identificador de traza de secci�n de regeneraci�n (RS‑TIM)
����������������� A.2.4���� Se�al de indicaci�n de alarma de secci�n
m�ltiplex (MS‑AIS)
����������������� A.2.5���� Indicaci�n de defecto distante de secci�n
m�ltiplex (MS‑RDI)
����������������� A.2.6���� P�rdida de puntero de unidad
administrativa (AU‑LOP)
����������������� A.2.7���� Se�al de indicaci�n de alarma de unidad
administrativa (AU‑AIS)
����������������� A.2.8���� Indicaci�n de defecto distante en
trayecto de orden superior (HP‑RDI)
����������������� A.2.9���� Desadaptaci�n del identificador de traza
de trayecto de orden superior (HP‑TIM, higher-order path trace
identifier mismatch)
���������������� A.2.10���� P�rdida de multitrama de trayecto de
orden superior (HP‑LOM)
���������������� A.2.11���� P�rdida de puntero de la unidad afluente
(TU‑LOP, tributary unit loss of pointer)
���������������� A.2.12���� Se�al de indicaci�n de alarma de la
unidad afluente (TU‑AIS)
���������������� A.2.13���� Indicaci�n de defecto distante en
trayecto de orden inferior (LP‑RDI)
���������������� A.2.14���� Desadaptaci�n del identificador de traza
de trayecto de orden inferior (LP‑TIM, lower-order path trace
identifier mismatch)
���������������� A.2.15���� P�rdida de sincronizaci�n de secuencia
(LSS)
������� A.3���� Otros eventos no relacionados con la medici�n de calidad de
funcionamiento
����������������� A.3.1���� Discordancia de cabida �til de trayecto
de orden superior (HP‑PLM)
����������������� A.3.2���� Discordancia de cabida �til de trayecto
de orden inferior (LP‑PLM, lower-order path payload mismatch)
����������������� A.3.3���� Trayecto de orden superior no equipado
(HP‑UNEQ)
����������������� A.3.4���� Trayecto de orden inferior no equipado
(LP‑UNEQ)
����������������� A.3.5���� P�rdida de entrada de temporizaci�n
����������������� A.3.6���� Indicaci�n de fallo distante de trayecto
de orden inferior (LP‑RFI, lower-order
path remote failure indication)
������� A.4���� Otra informaci�n
����������������� A.4.1���� Cuentas de justificaci�n de puntero
(PJC+, PJC�, administrative unit pointer
justification events)
Anexo B� Clasificaci�n de indicaciones disponibles en la SDH
������� B.1���� Indicaciones de anomal�as y defectos
Anexo C� Lista de estructuras de se�al de prueba
���� ���C.1���� Estructura de la
se�al de prueba TSS1 aplicada a todos los bytes de un contenedor de orden
superior C‑4
������� C.2���� Estructura de la se�al de prueba TSS2 aplicada a todos
los bytes de un contenedor de orden superior C‑3
������� C.3���� Estructura de la se�al de prueba TSS3 aplicada a todos
los bytes de un contenedor de orden superior C‑3
������� C.4���� Estructura de la se�al de prueba TSS4 aplicada a todos los
bytes de contenedores de orden inferior (C‑2, C‑12, C‑11)
������� C.5���� Estructura de la se�al de prueba TSS5 aplicada a todos
los bits afluentes PDH con correspondencia en un contenedor C-4
������� C.6���� Estructura de la se�al de prueba TSS6 aplicada a todos
los bits afluentes PDH con correspondencia en un contenedor C-3 de orden superior
������� C.7���� Estructura de la se�al de prueba TSS7 aplicada a todos los
bits afluentes PDH con correspondencia en un contenedor C‑3 de
orden inferior
������� C.8���� Estructura de la se�al de prueba TSS8 aplicada a todos
los bits afluentes PDH con correspondencia en un contenedor (C‑2, C‑11,
C‑12) de orden inferior
������� C.9���� Estructura de la se�al de prueba aplicada a estructuras
concatenadas contiguas VC‑4‑Xc
������ C.10���� Estructura de la se�al de prueba aplicada a estructuras
concatenadas contiguas VC‑2‑Xc
Ap�ndice I� Ejemplos de conexiones de equipos de
medici�n a elementos de red� que
ilustran diferentes modos de medici�n fuera de servicio