TABLE DES MATI�RES
�1���� Domaine d'application
�2����
R�f�rences normatives
�3����
D�finitions
�4����
Abr�viations
�5����
Modes de mesure et �v�nements � contr�ler
������� 5.1���� D�finition des modes de mesure
������� 5.2���� Ev�nements � contr�ler
����������������� 5.2.1����
Ev�nements de r�seau
����������������� 5.2.2���� Ev�nements de structure de signal d'essai
������� 5.3���� Modes de mesure hors service
����������������� 5.3.1���� Mode avec transparence de bout en bout de
conteneur d'ordre sup�rieur (C-4)
����������������� 5.3.2���� Mode avec transparence de bout en bout de
conteneur d'ordre sup�rieur (C-3)
����������������� 5.3.3���� Mode avec transparence de bout en bout de
conteneur d'ordre inf�rieur (C-3)
����������������� 5.3.4���� Mode avec transparence de bout en bout de
conteneur d'ordre inf�rieur (C‑11/C‑12/C-2)
����������������� 5.3.5���� Mode avec adaptation d'affluent
pl�siochrone dans un conteneur d'ordre sup�rieur (C‑4)
����������������� 5.3.6���� Mode avec adaptation d'affluent pl�siochrone
dans un conteneur d'ordre sup�rieur (C‑3)
����������������� 5.3.7���� Mode avec adaptation d'affluent
pl�siochrone dans un conteneur d'ordre inf�rieur (C‑3)
����������������� 5.3.8���� Mode avec adaptation d'affluent
pl�siochrone dans un conteneur d'ordre inf�rieur (C‑11/C-12/C-2)
����������������� 5.3.9���� Mode avec transparence de bout en bout de
structures concat�n�es contigu�s (VC‑2‑Xc et VC‑4‑Xc)
������� 5.4���� Modes de mesure en service
����������������� 5.4.1���� Ev�nements � contr�ler pour une section
de r�g�n�ration STM-N
����������������� 5.4.2���� Ev�nements � contr�ler pour une section
multiplex
����������������� 5.4.3���� Ev�nements � contr�ler pour un conteneur
d'ordre sup�rieur (C-4)
����������������� 5.4.4���� Ev�nements � contr�ler pour un conteneur
d'ordre sup�rieur (C-3)
����������������� 5.4.5���� Ev�nements � contr�ler pour un conteneur
d'ordre inf�rieur (C-3)
����������������� 5.4.6���� Ev�nements � contr�ler pour un conteneur
d'ordre inf�rieur (C-11/C-12/C-2)
��������������� ��5.4.7����
Ev�nements � contr�ler pour des structures concat�n�es contigu�s VC-2-Xc
et VC‑4‑Xc
�6����
G�n�rateur
������� 6.1���� Synchronisation du g�n�rateur
������� 6.2���� D�bits
������� 6.3���� Structures de signal de test
������� 6.4���� Sorties de signal num�rique
����������������� 6.4.1���� Interfaces num�riques
����������������� 6.4.2���� Gigue de sortie
�7����
R�cepteur
������� 7.1���� Entr�es de signal num�rique
����������������� 7.1.1���� Interfaces num�riques
����������������� 7.1.2���� Tol�rance de gigue d'entr�e
����������������� 7.1.3���� Points de contr�le prot�g�s
������� 7.2���� Structures de signal d'essai
������� 7.3���� Mesure de la performance en mati�re d'erreur
����������������� 7.3.1���� Mesure de la performance en mati�re
d'erreur � l'aide d'appareils ISM seulement
����������������� 7.3.2���� Mesure des erreurs � l'aide d'appareils
ISM et d'informations de s�quence de test
����������������� 7.3.3���� Utilisation des param�tres de performance
en mati�re d'erreur
����������������� 7.3.4���� Mesure additionnelle des erreurs
�8����
Fonctions diverses
������� 8.1���� Affichage
������� 8.2���� Adjonction d'anomalies et de d�fauts au signal de sortie
������� 8.3���� Indication d'alarme et d'erreur
������� 8.4���� Acc�s aux octets de surd�bit
������� 8.5���� Capacit� de d�multiplexage
������� 8.6���� Horodatage des �v�nements
������� 8.7���� Sortie vers des dispositifs d'enregistrement externes
������� 8.8���� Acc�s de t�l�commande
������� 8.9���� Interface de r�seau de gestion des t�l�communications (RGT)
������ 8.10���� Acc�s aux canaux de communication de donn�es
�9����
Conditions d'exploitation
������� 9.1���� Conditions d'environnement
������� 9.2���� Comportement en cas de d�faillance de l'alimentation en
�nergie
Annexe A� Crit�res applicables � la d�tection des anomalies et des d�fauts
������� A.1���� Anomalies relatives aux mesures de la qualit� de
fonctionnement
����������������� A.1.1���� D�verrouillage de trame (OOF, out of frame)
����������������� A.1.2���� Erreurs B1
������������� ����A.1.3���� Erreurs B2
����������������� A.1.4���� Erreurs B3
����������������� A.1.5���� Indication d'erreur distante de section
multiplex (MS-REI)
����������������� A.1.6���� Indication d'erreur distante de conduit
d'ordre sup�rieur (HP-REI)
��������� ��������A.1.7���� Indication
d'erreur distante de conduit d'ordre inf�rieur (LP-REI)
����������������� A.1.8���� Erreurs BIP-2
����������������� A.1.9���� Erreur de s�quence de test (TSE)
������� A.2���� D�fauts relatifs aux mesures de la performance
���� �������������A.2.1���� Perte
de signal (LOS)
����������������� A.2.2���� Perte de trame (LOF)
����������������� A.2.3���� Non-concordance d'identificateur de rep�re de section de r�g�n�ration
(RS-TIM)
����������������� A.2.4���� Signal d'indication d'alarme de section multiplex (MS-AIS)
����������������� A.2.5���� Indication de d�faut distante de section multiplex (MS-RDI)
����������������� A.2.6���� Perte de pointeur d'unit� administratrice (AU-LOP)
����������������� A.2.7���� Signal d'indication d'alarme d'unit� administrative (AU-AIS)
����������������� A.2.8���� Indication de d�faut distante de conduit d'ordre sup�rieur (HP-RDI)
����������������� A.2.9���� Non-concordance d'identificateur de rep�re de conduit d'ordre sup�rieur
(HP‑TIM, higher-order path trace identifier mismatch)
���������������� A.2.10���� Perte de multitrame de circuit d'ordre sup�rieur (HP‑LOM)
���������������� A.2.11���� Perte de pointeur d'unit� d'affluent (TU-LOP, tributary unit loss of
pointer)
���������������� A.2.12���� Signal d'indication d'alarme d'unit� d'affluents (TU-AIS)
���������������� A.2.13���� Indication de d�faut distante de conduit d'ordre inf�rieur (LP-RDI)
���������������� A.2.14���� Non-concordance d'identificateur de rep�re de conduit d'ordre inf�rieur
(LP‑TIM, lower-order path trace identifier mismatch)
���������������� A.2.15���� Perte de synchronisation de s�quence (LSS)
������� A.3���� Autres �v�nements non relatifs � la mesure de la qualit� de
fonctionnement
����������������� A.3.1���� Non-concordance de charge utile de conduit d'ordre sup�rieur (HP-PLM)
����������������� A.3.2���� Non-concordance de charge utile de conduit d'ordre inf�rieur (LP-PLM, lower-order
path payload mismatch)
����������������� A.3.3���� Conduit d'ordre sup�rieur non �quip� (HP-UNEQ)
����������������� A.3.4���� Conduit d'ordre inf�rieur non �quip� (LP-UNEQ)
����������������� A.3.5���� Perte d'entr�e de rythme
����������������� A.3.6���� Indication de d�faillance distante de conduit d'ordre inf�rieur (LP-RFI, lower-order
path remote failure indication)
������� A.4���� Autres informations
����������������� A.4.1���� D�comptes de justification de pointeur (PJC+, PJC-, pointer justification counts)
Annexe B� Classification des indications SDH disponibles
������� B.1���� Indications d'anomalie et de d�faut
Annexe C� Liste des structures de signal de test
������� C.1���� Structure de
signal d'essai TSS1 appliqu�e � tous les octets d'un conteneur d'ordre
sup�rieur C‑4
������� C.2���� Structure de signal d'essai TSS2 appliqu�e � tous les octets
d'un conteneur d'ordre sup�rieur C‑3
������� C.3���� Structure de signal d'essai TSS3 appliqu�e � tous les octets
d'un conteneur d'ordre inf�rieur C‑3
������� C.4���� Structure de signal d'essai TSS4 appliqu�e � tous les octets
de conteneurs d'ordre inf�rieur (C‑2, C-12, C-11)
������� C.5���� Structure de signal d'essai TSS5 appliqu�e � tous les bits
d'affluent PDH adapt�s � un conteneur C‑4
������� C.6���� Structure de signal d'essai TSS6 appliqu�e � tous les bits
d'affluent PDH adapt�s � un conteneur d'ordre sup�rieur C-3
������� C.7���� Structure de signal d'essai TSS7 appliqu�e � tous les bits
d'affluent PDH adapt�s � un conteneur d'ordre inf�rieur C-3
������� C.8���� Structure de signal d'essai TSS8 appliqu�e � tous les bits
d'affluent PDH adapt�s � un conteneur d'ordre inf�rieur (C-2, C-11, C-12)
������� C.9���� Structure de signal d'essai appliqu�e � des structures
concat�n�es contigu�s (VC-4-Xc)
������ C.10���� Structure de signal d'essai appliqu�e � des structures
concat�n�es contigu�s VC-2-Xc
Appendice I� Exemples de connexions d'�quipement de
mesure avec des �l�ments de r�seau illustrant diff�rents modes de mesure hors
service