�1���� Alcance
�2����
Referencias
�3����
Definiciones
�4����
Abreviaturas
�5����
Modos de medici�n y eventos que se han de supervisar
������� 5.1���� Definici�n de los modos de medici�n
������� 5.2���� Eventos que han de supervisarse
������������� ����5.2.1���� Eventos de red
����������������� 5.2.2���� Eventos relativos a la estructura de la
se�al de prueba
������� 5.3���� Modos de medici�n fuera de servicio
����������������� 5.3.1���� Modo con transparencia de extremo a
extremo en contenedor de orden superior (C-4)
������������������������������
5.3.1.1���� Secci�n de
regeneraci�n STM‑N
����������������������������
5.3.1.1.1���� Eventos que han de
supervisarse
����������������������������
5.3.1.1.2���� Estructuras de la
se�al de prueba que han de utilizarse
������������������������������
5.3.1.2���� Secci�n m�ltiplex
STM-N
����������������������������
5.3.1.2.1���� Eventos que han de
supervisarse
����������������������������
5.3.1.2.2���� Estructuras de la
se�al de prueba que han de utilizarse
���� ��������������������������5.3.1.3���� Trayecto VC-4 de orden superior
����������������������������
5.3.1.3.1���� Eventos que han de
supervisarse
����������������������������
5.3.1.3.2���� Estructuras de la
se�al de prueba que han de utilizarse
����������� ������5.3.2���� Modo con
transparencia de extremo a extremo en contenedor de orden superior (C-3)
������������������������������
5.3.2.1���� Secci�n de
regeneraci�n STM-N
����������������������������
5.3.2.1.1���� Eventos que han de
supervisarse
��������� �������������������5.3.2.1.2����
Estructuras de la se�al de prueba que han de utilizarse
������������������������������
5.3.2.2���� Secci�n m�ltiplex
STM-N
����������������������������
5.3.2.2.1���� Eventos que han de
supervisarse
������������������������ ����5.3.2.2.2���� Estructuras de la se�al de prueba que han de utilizarse
������������������������������
5.3.2.3���� Trayecto VC-3 de
orden superior
����������������������������
5.3.2.3.1���� Eventos que han de
supervisarse
���������������������������� 5.3.2.3.2���� Estructuras de la se�al de prueba que han
de utilizarse
����������������� 5.3.3���� Modo con transparencia de extremo a
extremo en contenedor de orden inferior (C-3)
������������������������������
5.3.3.1���� Eventos que han de
supervisarse
��� ���������������������������5.3.3.2���� Estructuras de la se�al de prueba que han de utilizarse
����������������� 5.3.4���� Modo con transparencia de extremo a
extremo en contenedor de orden inferior (C‑11/C-12/C-2)
������������������������������
5.3.4.1�� ��Eventos que han de supervisarse
������������������������������
5.3.4.2���� Estructuras de la
se�al de prueba que han de utilizarse
����������������� 5.3.5���� Modo con aplicaci�n de afluente
plesi�crono en un contenedor de orden superior (C-4)
��������� ���������������������5.3.5.1����
Eventos que han de supervisarse
������������������������������
5.3.5.2���� Estructuras de la
se�al de prueba que han de utilizarse
����������������� 5.3.6���� Modo con correspondencia de afluente
plesi�crono en un contenedor de orden superior (C‑3)
������������������������������
5.3.6.1���� Eventos que han de
supervisarse
������������������������������
5.3.6.2���� Estructuras de se�al
de la prueba que han de utilizarse
����������������� 5.3.7���� Modo con correspondencia de afluente
plesi�crono en un contenedor de orden inferior (C-3)
������������������������������
5.3.7.1���� Eventos que han de
supervisarse
������������������������������
5.3.7.2���� Estructuras de la
se�al de prueba que han de utilizarse
����������������� 5.3.8���� Modo con correspondencia de afluente
plesi�crono en un contenedor de orden inferior (C‑11/C‑12/C-2)
������������������������������
5.3.8.1���� Eventos que han de
supervisarse
������������������������������
5.3.8.2���� Estructuras de la
se�al de prueba que han de utilizarse
����������������� 5.3.9���� Modo con transparencia de extremo a
extremo de estructuras concatenadas (VC‑2‑mc y VC‑4‑Xc)
������� 5.4���� Modos de medici�n en servicio
����������������� 5.4.1���� Eventos que han de supervisarse para una
secci�n de regeneraci�n STM-N
����������������� 5.4.2���� Eventos que han de supervisarse para una
secci�n m�ltiplex
����������������� 5.4.3���� Eventos que han de supervisarse para un
contenedor de orden superior (C-4)
����������������� 5.4.4���� Eventos que han de supervisarse para un
contenedor de orden superior (C-3)
����������������� 5.4.5���� Eventos que han de supervisarse para un
contenedor de orden inferior (C-3)
����������������� 5.4.6���� Eventos que han de supervisarse para un
contenedor de orden inferior (C-11/C-12/C-2)
����������������� 5.4.7���� Eventos que han de supervisarse para
estructuras concatenadas VC-2-mc y VC-4-Xc
�6����
Generador
������� 6.1���� Sincronizaci�n del generador
������� 6.2���� Velocidades binarias
������� 6.3���� Estructuras de la se�al de prueba
������� 6.4���� Salidas de se�al digital
����������������� 6.4.1���� Interfaces digitales
����������������� 6.4.2���� Fluctuaci�n de fase de salida
�7����
Receptor
������� 7.1���� Entradas de se�al digital
���������������� �7.1.1����
Interfaces digitales
����������������� 7.1.2���� Tolerancia de fluctuaci�n de fase de
entrada
����������������� 7.1.3���� Puntos de supervisi�n protegidos
������������������������������
7.1.3.1���� Puntos protegidos de
supervisi�n el�ctrica
��� ���������������������������7.1.3.2���� Puntos de supervisi�n �ptica protegidos
������� 7.2���� Estructuras de la se�al de prueba
������� 7.3���� Medici�n de la caracter�stica de error
����������������� 7.3.1���� Medici�n de la caracter�stica de error
utilizando solamente facilidades ISM
������������������������������
7.3.1.1���� Tipo de medici�n
������������������������������
7.3.1.2���� Eventos relacionados
con la caracter�stica de error
������������������������������
7.3.1.3���� Par�metros de
caracter�stica de error
����������������� 7.3.2���� Medici�n de error que utiliza facilidades
ISM e informaci�n de secuencia de prueba
����������������� 7.3.3���� Utilizaci�n de los par�metros de calidad
de funcionamiento
����������������� 7.3.4���� Medici�n de error adicional
�8����
Funciones varias
������� 8.1���� Presentaci�n visual
������� 8.2���� Adici�n de anomal�as y defectos en la se�al de salida
������� 8.3���� Indicaci�n de error y alarma
������� 8.4���� Acceso a bytes de tara
������� 8.5���� Capacidad de demultiplexaci�n
������� 8.6���� Indicaci�n de fecha y hora de los eventos
������� 8.7���� Salida hacia dispositivos de registro externos
������� 8.8���� Puerto de control a distancia
������� 8.9���� Interfaz TMN
������ 8.10���� Acceso a canales de comunicaciones de datos
�9����
Condiciones de funcionamiento
������� 9.1���� Condiciones ambientales
������� 9.2���� Comportamiento en caso de fallo de la alimentaci�n de energ�a
Anexo� A � Criterios para la
detecci�n de anomal�as y defectos
������� A.1���� Anomal�as relacionadas con las mediciones de calidad de
funcionamiento
����������������� A.1.1���� Fuera de trama (OOF)
����������������� A.1.2���� Errores B1
����������������� A.1.3���� Errores B2
����������������� A.1.4���� Errores B3
����������������� A.1.5��� �Indicaci�n de error distante de secci�n m�ltiplex (MS‑REI)
����������������� A.1.6���� Indicaci�n de error distante de trayecto
de orden superior (HP-REI)
����������������� A.1.7���� Indicaci�n de error distante de trayecto
de orden inferior (LP-REI)
��� ��������������A.1.8����
Errores BIP-2
����������������� A.1.9���� Error de secuencia de prueba (TSE)
������� A.2���� Defectos relacionados con mediciones de calidad de
funcionamiento
����������������� A.2.1���� P�rdida de se�al (LOS)
����������������� A.2.2���� P�rdida de trama (LOF)
����������������� A.2.3���� Discordancia de identificador de rastreo
de secci�n de regeneraci�n (RS-TIM)
����������������� A.2.4���� Se�al de indicaci�n de alarma de secci�n
m�ltiplex (MS‑AIS)
����������������� A.2.5���� Indicaci�n de defecto distante de secci�n
m�ltiplex (MS‑RDI)
����������������� A.2.6���� P�rdida de puntero de unidad
administrativa (AU‑LOP)
����������������� A.2.7���� Se�al de indicaci�n de alarma de unidad
administrativa (AU‑AIS)
����������������� A.2.8���� Indicaci�n de defecto distante de
trayecto de orden superior (HP‑RDI)
����������������� A.2.9���� Discordancia de identificador de rastreo
de trayecto de orden superior (HP‑TIM)
���������������� A.2.10���� P�rdida de multitrama de unidad afluente
(TU‑LOM)
���������������� A.2.11���� P�rdida de puntero de unidad afluente (TU‑LOP)
���������������� A.2.12���� Se�al de indicaci�n de alarma de unidad
afluente (TU‑AIS)
���������������� A.2.13���� Indicaci�n de defecto distante de
trayecto de orden inferior (LP‑RDI)
���������������� A.2.14���� Discordancia de identificador de rastreo
de trayecto de orden inferior (LP‑TIM)
���������������� A.2.15���� P�rdida de sincronizaci�n de secuencia
(LSS)
������� A.3���� Otros eventos no relacionados con la medici�n de calidad de
funcionamiento
����������������� A.3.1���� Discordancia de cabida �til de trayecto
de orden superior (HP‑PLM)
����������������� A.3.2���� Discordancia de cabida �til de trayecto
de orden inferior (LP‑PLM)
����������������� A.3.3���� Trayecto de orden superior no equipado
(HP‑UNEQ)
����������������� A.3.4���� Trayecto de orden inferior no equipado
(LP‑UNEQ)
����������������� A.3.5���� P�rdida de entrada de temporizaci�n
����������������� A.3.6���� Indicaci�n de fallo distante de trayecto
de orden inferior (LP‑RFI, lower-order
path remote failure indication)
������� A.4���� Otra informaci�n
����������������� A.4.1���� Eventos de justificaci�n de puntero de
unidad administrativa (AU‑PJE,
administrative unit pointer justification events)
Anexo� B � Clasificaci�n de
indicaciones disponibles en la SDH
Anexo� C � Lista de
estructuras de se�al de prueba
������� C.1���� Estructura de la se�al de prueba TSS1 aplicada a todos los
bytes de un contenedor de orden superior C‑4
������� C.2���� Estructura de la se�al de prueba TSS2 aplicada a todos
los bytes de un contenedor de orden superior C‑3
������� C.3���� Estructura de la se�al de prueba TSS3 aplicada a todos
los bytes de un contenedor de orden superior C‑3
������� C.4���� Estructura de la se�al de prueba TSS4 aplicada a todos los
bytes de contenedores de orden inferior (C‑2, C‑12, C‑11)
������� C.5���� Estructura de la se�al de prueba TSS5 aplicada a todos
los bits afluentes PDH con correspondencia en un contenedor C-4
������� C.6���� Estructura de la se�al de prueba TSS6 aplicada a todos
los bits afluentes PDH con correspondencia en un contenedor C-3 de orden
superior
������� C.7���� Estructura de la se�al de prueba TSS7 aplicada a todos los
bits afluentes PDH con correspondencia en un contenedor C‑3 de
orden inferior
������� C.8���� Estructura de la se�al de prueba TSS8 aplicada a todos
los bits afluentes PDH con correspondencia en un contenedor (C‑2, C‑11,
C‑12) de orden inferior
������� C.9���� Estructura de la se�al de prueba aplicada a estructuras
concatenadas
Ap�ndice I� �� Ejemplos de conexiones de equipos de medici�n a elementos de red
que ilustran diferentes modos de medici�n fuera de servicio