�1���� Scope
�2���� References
������� 2.1���� Normative references
������� 2.2���� Informative references
�3���� Definitions
�4���� Abbreviations
�5���� Conventions
�6���� Functional block diagram
�7���� Interfaces
������� 7.1���� Optical interfaces
������� 7.2���� Electrical interfaces
������� 7.3���� External reference clock input
������� 7.4���� Input interface sensitivity
�8���� Jitter/wander generation function
������� 8.1���� Modulation source
������� 8.2���� Clock generator
�������������� ���8.2.1���� Accuracy of the clock generator
������� 8.3���� Digital test pattern generator
����������������� 8.3.1���� Digital test patterns
����������������� 8.3.2���� Digital test patterns for SDH tributary signals
������� 8.4���� Pointer sequence generator
����������������� 8.4.1���� Pointer test sequence generation capability
������� 8.5���� Minimum jitter/wander generation capability
������� 8.6���� Generation accuracy
����������������� 8.6.1���� Phase amplitude error
����������������� 8.6.2���� Phase slope error
����������������� 8.6.3���� Intrinsic jitter/wander of generation function
�9���� Jitter measurement function
������� 9.1���� Reference timing signal
������� 9.2���� Measurement capabilities
����������������� 9.2.1���� Measurement range
����� ������������9.2.2���� Selectable threshold
����������������� 9.2.3���� Measurement of RMS jitter
����������������� 9.2.4���� Input phase tolerance for SDH tributary signals
������� 9.3���� Measurement bandwidths
����������������� 9.3.1���� Frequency response of jitter measurement function for SDH line signals
����������������� 9.3.2���� Frequency response of jitter measurement function for SDH tributary
signals
������� 9.4���� Measurement accuracy
����������������� 9.4.1���� Measurement result accuracy
����������������� 9.4.2���� Fixed error of SDH line jitter measurements
����������������� 9.4.3���� Fixed error of SDH tributary jitter measurements
����������������� 9.4.4���� Variable error of SDH tributary jitter measurements
�������������� ���9.4.5���� Digital test signal-dependent error
������� 9.5���� Additional facilities
����������������� 9.5.1���� Analogue output
10���� Wander measurement function
������ 10.1���� Reference timing signal
������ 10.2���� Measurement of TIE (Time Interval Error)
���������������� 10.2.1���� Sampling interval
���������������� 10.2.2���� Measurement bandwidth
���������������� 10.2.3���� Measurement range
���������������� 10.2.4���� Measurement result accuracy
������ 10.3���� Measurement of transient TIE (Time Interval Error)
���������������� 10.3.1���� Sampling Interval
���������������� 10.3.2���� Measurement Bandwidth
���������������� 10.3.3���� Measurement Range
���������������� 10.3.4���� Measurement Result Accuracy
������ 10.4���� Measurement of MTIE (Maximum Time Interval Error)
���������������� 10.4.1���� Measurement and observation interval ranges
���������������� 10.4.2���� Calculation algorithm accuracy
���������������� 10.4.3���� Measurement result accuracy
������ 10.5���� Measurement of TDEV (Time Deviation)
���������������� 10.5.1���� Measurement and observation interval ranges
���������������� 10.5.2���� Calculation algorithm accuracy
���������������� 10.5.3���� Measurement result accuracy
������ 10.6���� Measurement of Frequency Offset
���������������� 10.6.1���� Measurement range
���������������� 10.6.2���� Calculation algorithm accuracy
���������������� 10.6.3���� Measurement result accuracy
������ 10.7���� Measurement of Frequency Drift Rate
���������������� 10.7.1��� �Measurement range
���������������� 10.7.2���� Calculation algorithm accuracy
���������������� 10.7.3���� Measurement result accuracy
11���� TDEV wander noise generation function
12���� Operating environment
Annex A -
Structured test signals for the measurement of jitter
������� A.1���� Introduction
����������������� A.1.1���� Payload test conditions
����������������� A.1.2���� SDH overhead byte conditions
������� A.2���� Test signal structure for STM‑N signals
����������������� A.2.1���� STM‑1 signal
���� �������������A.2.2���� STM‑N signal (N � 4)
����������������� A.2.3���� STM‑0 signal
������� A.3���� Test signal structure for concatenated STM‑N signals
����������������� A.3.1���� STM‑N signal (N � 4)
Annex B - Definition
of band-limited peak-to-peak phase slope error
Annex C -
Specification of distribution for TDEV wander noise generation
Appendix I -
Guidelines concerning the measurement of jitter in SDH systems
Appendix II Guidelines
concerning the measurement of wander in SDH systems
������ II.1���� Wander measurements
���������������� II.1.1���� General considerations on wander measurement configurations
���������������� II.1.2���� Synchronized wander measurements
���������������� II.1.3���� Non-synchronized wander measurements
������ II.2���� Clock stability measurements
Appendix III -
Guidelines concerning the generation of pointer test sequences
Appendix IV - Total
jitter measurement function response
������ IV.1���� Introduction
������ IV.2���� Measurement filter parameters
������ IV.3���� Mask limits for high-pass measurement filter response
���������������� IV.3.1���� SDH tributary jitter measurement high-pass filter
Appendix V -
Verification of MTIE and TDEV calculation algorithms
������� V.1���� TIE noise source functional description
������� V.2���� First example of TIE noise generator
������� V.3���� Second example of
TIE noise generator